郝跃院士

作者: 时间:2020-06-17 点击数:

郝跃,中国科学院院士,微电子学专家,微电子学与固体电子学博士生导师。安徽省阜阳人,19583月生于重庆市,1982年毕业于西安电子科技大学半导体物理与器件专业,1991年在西安交通大学计算数学专业获博士学位。九三学社第十四届中央委员会常委和九三学社陕西省委主委、中国电子学会副理事长、国际IEEE学会高级会员。郝跃院士是国家中长期科学和技术发展规划纲要(2006-2020)” 核心电子器件、高端通用芯片和基础软件产品”科技重大专项实施专家组组长,国务院第七届学科评议组(电子科学与技术一级学科)召集人,国家自然科学基金委员会信息科学部主任,高等院校电子信息类专业教学指导委员会主任委,教育部科技委委员,国家重大基础研究计划( 973计划)项目首席科学家,陕西省科学技术协会副主席,微电子技术领域的著名专家。他是第九、第十、第十三届全国政协委员和第十- -届全国人大代表。201311月 当选中国科学院院士。

郝跃院士长期从事新型宽禁带半导体材料和器件、微纳米半导体器件与高可靠集成电路等方面的科学研究与人才培养。在氮化镓碳化硅第三代(宽禁带)半导体功能材料和微波器件、半导体短波长光电材料与器件研究和推广、微纳米CMOS器件可靠性与失效机理研究等方面取得了系统的创新成果。

主要研究方向:1.宽禁带和超宽禁带半导体材料与器件2.微纳半 导体新器件及其可靠性3.SoC设计与设计方法学

教学与科研成果:成果获得国家技术发明奖二等1( 2009) , 国家科技进步奖二等2( 2008年、2015),国家科技进步奖三等1( 1998) ; 国家级教学成果一等奖1( 2018)和国家级教学成果二等奖1( 2014);获得国家发明专利授权近百项;出版《氮化物宽禁带半导体材料与电子器件》、《碳化硅宽带隙半 导体技术》、《集成电路制造动力学理论与方法》和《微纳米CMOS器件可靠性与失效机理》、《 NITRIDE WIDEBANDGAP SEMICONDUCTOR MATERIAL AND ELECTRONIC DEVICES》等多部著作,在国内外著名期刊上发表学术论文500余篇;2010年荣获何梁何利科学技术奖。

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